HP-S-X1系列接触扫描式传感器
• HP-S-X1是高精度连续扫描测头家族，支持各种标准测量模式，例如：单点触发测量，自定义测量和连续高速扫描测量，HP-S-X1分为X1S/X1H/X1/X1C。
• 可以使用HR-R自动更换架自动更换整个测头，也可以使用HR-X自动更换架自动更换夹持吸盘,完成探针组件的更换。
• 由于HP-S-X1未锁定空间任何方向，因而可向所有轴向同时运动，从而达到始终从待测表面法线方向逼近工件完成测量过程的目的。
• 通过TKJ接口，可与支持扫描的测座完美匹配
由于采用触发校验方式，测针校验时间短，因而提高了效率。
HP-S-X3系列接触扫描式传感器
HP-S-X3是专为高速、高精度坐标测量机而设计的一款，固定式模拟扫描测头。
HP-S-X3三维扫描测头系统，即使在水平探针长度达360 mm以及重量达150 g的情况下，也具备极高的精度。是一款高精度、高可靠性的测头系统。
HP-S-X3能够采用各种附件，包括各种探针、加长杆、连接座和关节，从而可完成任何测量任务。
测头组合能够通过具备高重复性的探针夹持器进行更换，而不需要重新校正。
HP-S-X5/X5HD系列接触扫描式传感器
HP-S-X5/X5HD采用固定式模拟扫描的测头，专为高速、高精度测量机设计而成。在测量公差要求严格的复杂几何形状时，具有高精度和可重复性。
此测头系统的每个轴均由高精度的LVDT（线性可变微分传感器）组成，从而允许携带长达500mm（X5HD型号：800mm）以及重达500g（X5HD型号：650g） 的探针和加长杆。
其探测模式包括单点触发测量、自定中心和高速扫描，可完成各种复杂的测量任务，包括复杂轮廓和外形的扫描。
能够采用各种附件，包括各种探针、加长杆、连接座和关节，从而可完成任何测量任务。
更换测头组合能够直接通过具备高度重复性的探针吸盘进行，而不需重新校正，仍保持测量精度。
专有的防碰撞系统，为传感器提供了额外的保护，该传感器兼容 SENMATION 智能传感器自动更换系统。
LSP-S2/S4系列接触扫描式传感器
LSP-S2采用模拟测头设计，触测后，同时进行空间向量测量，具有超高精度和重复性。高精度动态探测技术，接触前无机械预偏差，免维护设计。
水平测针延伸长度可达800mm，连续高速扫描测头LSP-S2允许测量工件内部深处的特征。
该探测系统的每个轴均由高精度的LVDT（线性可变微分传感器）组成。
其探测模式包括单点触发测量、自定中心和高速扫描，可完成各种复杂的测量任务，包括复杂轮廓和外形的扫描。
LSP-S4是高分辨率，低测力测头。支持动态单点触测，自定心测量及VHSS可变高速扫描测量。利用测头加长杆，连续高速扫描测头LSP-S4水平方向最大可达到800mm，因此可深入被测工件测量内部特征。另外由于整合了自动重量平衡系统，LSP-S4可以携带最大1000g。
鲁公网安备37020002000329号